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                                      公共檢測平臺

                                      ?型號:電鏡-FEI Nova nanoSEM450(美國FEI公司)/能譜-X-Max50(英國牛津儀器公司)/EBSD-Nordlys Max(英國牛津儀器公司)

                                      ? 性能指標:電鏡二次電子分辨率:0.8nm(30KV);加速電壓:0.5kV~30kV;放大倍數:35-900,000倍;能譜分辨率123eV(Mn Ka)。

                                      ?主要功能:能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像,背散射電子像觀察及圖像處理;配備有X射線能譜儀,可以進行樣品表層的微區(點、線、面)的定性、半定量和定量分析;同時配備EBSD,可以進行取向和取向差異的測量、微織構分析、相鑒定、應變和真實晶粒尺寸的測量。

                                      場發射掃描電子顯微鏡(能譜及EBSD)_副本.jpg











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